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CY3451 Oblea de silicio Ta/SiO2 recubierta de Cu

Catálogo No. CY3451
Composición (cúbica) Cu, Ta, SiO2
Pureza >99.99%
Talla 2, 4, 6, 8, 12" de diámetro 0,525 mm de grosor
Orientación Cu <111>

Cu Recubierto Ta / SiO2 oblea de silicio se puede utilizar en el campo de la nanotecnología, microscopía electrónica de barrido (SEM), microscopía de fuerza atómica (AFM), y otros microscopios de sonda de barrido que van. Stanford Advanced Materials (SAM) tiene una gran experiencia en la fabricación y suministro de productos ópticos de alta calidad.

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