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CY3454 Sustrato SiO2/Si recubierto de Ni

Catálogo No. CY3454
Composiciones Ni, SiO2, Si
Pureza >99.99%
Talla 4", 10x10x0,5 mm, o personalizado
Acabado superficial Una cara pulida
Orientación <100> ±0.5°

Ni recubierto de SiO2 / Si sustrato puede ser utilizado en el campo de la nanotecnología, microscopía electrónica de barrido (SEM), microscopía de fuerza atómica (AFM), y otros microscopios de sonda de barrido que van. Stanford Advanced Materials (SAM) tiene una gran experiencia en la fabricación y suministro de productos ópticos de alta calidad.

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