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CY3439 Oblea de silicio aglomerado (sustrato SiO2/Si recubierto de Ag/Cr)

Catálogo No. CY3439
Composiciones Ag, Cr, SiO2, Si
Espesor del revestimiento Cr 2-7nm Ag 50nm
Talla 4", 50mm, 100mm Dia, o personalizado
Espesor 0,525 mm, 0,279 mm
Pulido Una cara pulida

Ag / Cr recubierto de SiO2 / Si sustrato se puede utilizar en el campo de la nanotecnología, microscopía electrónica de barrido (SEM), microscopía de fuerza atómica (AFM), y otros microscopios de sonda de barrido que van. Stanford Advanced Materials (SAM) tiene una gran experiencia en la fabricación y suministro de productos ópticos de alta calidad.

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