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Catálogo No. | CY3439 |
Composiciones | Ag, Cr, SiO2, Si |
Espesor del revestimiento | Cr 2-7nm Ag 50nm |
Talla | 4", 50mm, 100mm Dia, o personalizado |
Espesor | 0,525 mm, 0,279 mm |
Pulido | Una cara pulida |
Ag / Cr recubierto de SiO2 / Si sustrato se puede utilizar en el campo de la nanotecnología, microscopía electrónica de barrido (SEM), microscopía de fuerza atómica (AFM), y otros microscopios de sonda de barrido que van. Stanford Advanced Materials (SAM) tiene una gran experiencia en la fabricación y suministro de productos ópticos de alta calidad.
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