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Catálogo No. | CY3453 |
Material del sustrato | <110>, YSZ, 10x10x0,5 mm |
Acabado superficial | Una cara pulida |
Orientación | <110> |
Composición de la película delgada epitaxial | CeO2 |
Espesor de la película epitaxial | 40 nm ± 10 nm |
Elsustrato YSZ recubierto de CeO2 puede utilizarse como sustrato en el campo de la nanotecnología, la microscopía electrónica de barrido (SEM) y la microscopía de fuerza atómica (AFM). Stanford Advanced Materials (SAM) tiene una gran experiencia en la fabricación y suministro de productos ópticos de alta calidad.
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